Rp 600.000
DESKRIPSI LAYANAN | Analisa per Sampel padatan (Parameter SEM fotomikrograf) Prasyarat Sampel: Untuk memperlancar verifikasi sampel uji yang telah didaftarkan, customer harus melengkapi form F-10 yang dapat didownload di bagian “Berkas Layanan” à “Berkas SOP Layanan” dan…
- Laboratorium Fisika dan Instrumen Pencitraan Maju - Imaging Resolusi Menengah (MIP)
- Direktorat Pengelolaan Laboratorium, Fasilitas Riset, dan Kawasan Sains dan Teknologi
- KST Serpong (Bacharuddin Jusuf Habibie)
Gd. 442 KST BJ Habibie Serpong - BRIN, Tangerang Selatan, Kode Pos 15314 - 08119811562
- nusaveritasinspektama@gmail.com
Marketing Office
Deputi Bidang Infrastruktur Riset dan Inovasi BRIN
layanan_sains@brin.go.id
Analisa per Sampel padatan (Parameter SEM fotomikrograf)
Prasyarat Sampel: Untuk memperlancar verifikasi sampel uji yang telah didaftarkan, customer harus melengkapi form F-10 yang dapat didownload di bagian “Berkas Layanan” à “Berkas SOP Layanan” dan kemudian form F-10 yang telah diisi (format .pdf) diunggah/diupload bersama foto sampel di bagian “File Dukung Lainnya” dan “File Data Foto”. Pastikan bahwa nama dan jumlah sampel yang terdaftar di ELSA System sama dengan jumlah sampel yang tertulis pada Form F-10. Ketidaklengkapan dokumen pendukung tersebut dapat menyebabkan pendaftaran sampel uji dibatalkan oleh Verifikator.
Equipment : Scanning Electron Microscope (SEM)
Brand/Type :
No BMN alat yang digunakan:
Merupakan instrument untuk mengetahui informasi-informasi mengenai:
1. Topografi, yaitu ciri-ciri permukaan dan teksturnya (kekerasan, sifat memantulkan cahaya, dan sebagainya).
2. Morfologi, yaitu bentuk dan ukuran dari partikel penyusun objek (kekuatan, cacat pada Integrated Circuit (IC) dan chip, dan sebagainya).
3.Komposisi, yaitu data kuantitatif unsur dan senyawa yang terkandung di dalam objek (titik lebur, kereaktifan, kekerasan, dan sebagainya).
4.Informasi kristalografi, yaitu informasi mengenai bagaimana susunan dari butir-butir di dalam objek yang diamati (konduktifitas, sifat elektrik, kekuatan, dan sebagainya).
Merupakan instrument untuk mengkarakterisasi struktur kristal, ukuran kristal dari suatu bahan padat. Semua bahan yang mengandung kristal tertentu ketika dianalisa menggunakan XRD akan memunculkan puncak – puncak yang spesifik
Syarat Pengajuan:
Prasyarat Sampel: Untuk memperlancar verifikasi sampel uji yang telah didaftarkan, customer harus melengkapi form F-10 yang dapat didownload di bagian “Berkas Layanan” à “Berkas SOP Layanan” dan kemudian form F-10 yang telah diisi (format .pdf) diunggah/diupload bersama foto sampel di bagian “File Dukung Lainnya” dan “File Data Foto”. Pastikan bahwa nama dan jumlah sampel yang terdaftar di ELSA System sama dengan jumlah sampel yang tertulis pada Form F-10. Ketidaklengkapan dokumen pendukung tersebut dapat menyebabkan pendaftaran sampel uji dibatalkan oleh Verifikator.
Equipment : Scanning Electron Microscope (SEM)
Brand/Type :
No BMN alat yang digunakan:
Merupakan instrument untuk mengetahui informasi-informasi mengenai:
1. Topografi, yaitu ciri-ciri permukaan dan teksturnya (kekerasan, sifat memantulkan cahaya, dan sebagainya).
2. Morfologi, yaitu bentuk dan ukuran dari partikel penyusun objek (kekuatan, cacat pada Integrated Circuit (IC) dan chip, dan sebagainya).
3.Komposisi, yaitu data kuantitatif unsur dan senyawa yang terkandung di dalam objek (titik lebur, kereaktifan, kekerasan, dan sebagainya).
4.Informasi kristalografi, yaitu informasi mengenai bagaimana susunan dari butir-butir di dalam objek yang diamati (konduktifitas, sifat elektrik, kekuatan, dan sebagainya).
Merupakan instrument untuk mengkarakterisasi struktur kristal, ukuran kristal dari suatu bahan padat. Semua bahan yang mengandung kristal tertentu ketika dianalisa menggunakan XRD akan memunculkan puncak – puncak yang spesifik
Syarat Pengajuan:
- File Data Foto
- File Dukung Lainnya
| Nama Berkas | Ukuran Berkas | |
|---|---|---|
| Berkas SOP/Formulir/Ajuan Layanan | 0.33 MB | |
| Template File Data Foto | 0 MB | |
| Template File Dukung Lainnya | 0 MB |
